提高您的测试覆盖范围

SPEA 和 JTAG Technologies 宣布进行技术合作，大幅改善边界扫描选项在飞针和针床测试设备上的集成。

在线测试与边界扫描技术的结合，可以成为最佳解决方案，满足多种高度集成数字设计的质量要求。许多现代的组装 PCB 板包含一个或多个带有 JTAG 接口的器件。通常，这可以驱动和感测带有 JTAG 的器件 I/O 引脚所连接的组装 PCB 板网络，而无需对这些网络和引脚进行物理访问。为在线测试添加边界扫描功能，将能增加互连、逻辑部件和信号内无源器件的故障覆盖率。由于测试点数量减少，通常还可降低针床系统的夹具成本。

JTAG Technologies 全新的边界扫描控制器如今可用于 SPEA 系列飞针和针床 ICT 测试仪。

基于 JTAG Technologies 大获成功的 JT37x7 架构，已开发出新版本的 QuadPod (JT2147 / SAM / FXT-3030)，可完美匹配 3030 的系统机架。

我们开发了一个全新的控制器 (JT3703 / USB)，以便将之集成到 40×0 飞针测试仪中。其尺寸紧凑，可以安装在其中一个飞轴上，并连接到多探头单元上。

集成并不仅仅是将 JTAG Technologies 控制器添加到测试仪配置中：测试应用程序开发和测试执行都经过全面优化，以避免多余测试，并且可以完全通过 SPEA Leonardo 操作系统软件进行。

优点:

• 提高测试覆盖范围

• 通过优化的 BSC + FPT 测试程序，缩短飞针测试仪的测试时间

• 减少电路板处理

• 测试操作员已经熟悉 SPEA Leonardo GUI

• SPEA 数字通道与边界扫描驱动和感测结合使用

• 纯边界扫描应用程序可以在夹具可用之前进行验证和使用

• 可以用更少的测试焊盘测试目标电路板